Phase transformations in semiconductor silicon by the influence of magnetic field
Journal Title: Системні технології - Year 2017, Vol 1, Issue 5
Abstract
The magnetic processing influence on the semiconductor silicon phase composition grown by the Czochralski method was investigated at present work. The processing has registered splitting of diffraction lines, as well as the emergence of new peaks at the angles of scattering 90-92 degrees due to the curvature of the SiFCC crystal lattice and the formation of SiROMB along with it. This indicates the occurrence of phase transformations in semiconductor silicon samples in the process of magnetic processing.
Authors and Affiliations
Valentina Kutsova, Hanna Stetsenko, Volodymyr Mazorchuk
Пристрій для автоматичного вимірювання спектрів електронного парамагнітного резонансу
Розроблено та виготовлено пристрій для автоматичного вимірювання спектрів електронного парамагнітного резонансу за допомогою зовнішнього мікроконтролерного (МК) блоку, який вимірює величину індукції магнітного поля та ін...
Імітаційна модель агрегації в технології PVD
В роботі створена імітаційна модель агрегації кластерних утворень при формувані плівок за технолгією Physical Vapor Deposition.
Информационная технология планирования испытаний на основе сплайн-распределений
Предлагается технология планирования испытаний технических систем на основе последовательного анализа для сплайн-распределения Вейбулла с двумя узлами. Приведен пример реализации разработанного метода на изделии авиацион...
ALGORITHM FOR REPRESENTATIONS OF THE POLYSWITCH FUSE CHARACTERISTICS IN THE MODELING PROBLEMS
Approximations of the temperature dependences of the resistance and current-voltage characteristics of the PolySwitch fuses are proposed. These approximation dependences would have sufficiently well-posedness and stabili...
ГОМОМОРФНА ФІЛЬТРАЦІЯ ФОТОГРАММЕТРИЧНОГО ЗОБРАЖЕННЯ
Розроблений спосіб попередньої обробки цифрових фото-грамметричних зображень на основі гомоморфної їх обробки, який підвищує інформаційну значущість первинних зображень за критеріями достовірності розпізнавання на них ге...