Покращення метрологічних характеристик цифрових напівпровідникових термометрів
Journal Title: Вимірювальна техніка та метрологія - Year 2010, Vol 1, Issue 71
Abstract
The input circuit for digital thermometer with outside semiconductor sensor is analyzed in this paper. The analyze is showed that is needed to reduce data errors of the generator modulation current. So are rational generator modulation current changes to integration resistors multiplying DAC. This paper is consisted experimental investigation of the digital thermometer that is designed by easily circuit. Was investigation that in designed digital thermometer was provided independence measure temperature from resistance line communication.
Authors and Affiliations
Олександр Тимчук, Юрій Яцук
Keywords
Related Articles
- EP ID EP196555
- DOI -
- Views 97
- Downloads 0
ОСОБЛИВОСТІ ВИЗНАЧЕННЯ ЧИННИКА ВИПРОМІНЮВАЛЬНОЇ ЗДАТНОСТІ МАТЕРІАЛІВ ЗА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР
Analysed features of determination of coefficient of radiating of materials at low temperatures.
ДОСЛІДЖЕННЯ ХАРАКТЕРИСТИК МАТЕРІАЛІВ ДЛЯ УЛЬТРАЗВУКОВОЇ ТЕРМОМЕТРІЇ
There are shown the results of researches acoustic properties of materials for the sensible elements of ultrasonic materials. For researches acoustic properties an experimental complex based on fast-acting analog-digital...
ШУМОВА ТЕРМОМЕТРІЯ. АНАЛІЗ ПОХИБОК
The analysis of errors of the noise method of the measuring temperature is conducted.
ВСТАНОВЛЕННЯ ПАРАМЕТРІВ МІКРОБІОЛОГІЧНИХ РИЗИКІВ У КРИТИЧНИХ ТОЧКАХ КОНТРОЛЮ ТЕХНОЛОГІЧНОГО ПРОЦЕСУ ВИРОБНИЦТВА ПАСТЕРИЗОВАНОГО МОЛОКА
as raw material for dairy industry. Milk that is produced under any conditions and ways of keeping cows, is always exposed to microbiological risks. Microbiological risk assessment is one of the most important developmen...
МЕТОД КОРЕКЦІЇ НЕЛІНІЙНОСТІ ДВОДІАПАЗОННИХ АЦП З ІТЕРАЦІЙНИМ ВИКОРИСТАННЯМ БАГАТОРЕЗИСТОРНОГО ПОДІЛЬНИКА НАПРУГИ
There is developed method of testing points generation for identification and correction of integral nonlinearity of high performance ADC. The developed method is based on averaging all voltages of multi-resistors voltag...