Системний аналіз процесів та моделей взаємозв’язків і взаємодій. Лінійні статичні системи
Journal Title: Вісник Черкаського державного технологічного університету - Year 2017, Vol 1, Issue 1
Abstract
Розглядається підхід до створення свого роду мови спілкування дослідника технічних систем з ЕОМ з наступним використанням т.зв. стандартизованого математичного (матричного) опису взаємозв’язків, який дозволяє формувати моделі лінійних статичних систем. При цьому використовується апарат теорії графів потоків сигналів.
Authors and Affiliations
А. А. Тимченко
Keywords
Related Articles
- EP ID EP461828
- DOI -
- Views 167
- Downloads 0
Применения пьезоэлектрических актуаторов в микроманипуляторах
В статье рассмотрены особенности использования пьезоэлектрических актуаторов в микроманипуляционных системах для осуществления перемещений на микронном уровне. Проведен анализ применения пьезоэлектрических актуаторов в м...
Ефективності підприємств хімічної промисловості
В статті розглядаються основні питання розробки структури інформаційної системи оцінювання ефективності підприємств хімічної промисловості. Запропонована інформаційна система включає бази даних технологічних та економічн...
Встановлення та оцінка невизначеності результату вимірювання лінійного розміру безконтактним методом
В роботі показано необхідність встановлення достовірності результатів вимірювань на основі концепції «оцінювання невизначеності вимірювань» оскільки методики розрахунку невизначеності вже запроваджені в міжнародній практ...
Порівняльна оцінка факторіальних кодів
У роботі досліджено механізм утворення помилок декодування, їх зв’язок зі статистикою помилок та алгоритмами прийняття рішень у процесі декодування факторіальними кодами. Для виконання порівняльного оцінювання стійкості...
ОСОБЛИВОСТІ ПРОВЕДЕННЯ ДОСЛІДЖЕНЬ МІКРОГЕОМЕТРІЇ ТА ПОВЕРХНЕВИХ ВЛАСТИВОСТЕЙ ДІЕЛЕКТРИЧНИХ МАТЕРІАЛІВ ДЛЯ МІКРО- І НАНОЕЛЕКТРОНІКИ
У статті коротко розглянуті особливості проведення дослідження мікрогеометрії і поверхневих властивостей діелектричних матеріалів для мікро- і наноелектроніки із застосуванням методу АСМ. Показано переваги та обмеження з...